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トップページ > 20 12月 2012
第30回エレクトロテスト ジャパン エレクトロニクス検査・試験・測定・分析技術展
開催日:1月16日(水)~18日(金)
会場:東京ビッグサイト
<主な展示内容> 外観検査装置、リワーク/リペア装置、テスタ、検査関連部品、測定/試験/分析機器、分析受託サービス、その他各種検査・試験・測定装置・部品、産業用カメラ、ソフト、システムなど画像処理など
<問い合わせ先> リードエグジビションジャパン(株)内
URL:http://www.electrotest.jp/
»記事URL | 2012.12.20 | 展示会情報 | コメント (0)